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產品中心

雙折射測量儀PA-Micro

  • 型 號：
  • 訪問次數：3671
  • 更新時間：2023-08-30
  • 價   格：

雙折射測量儀PA-Micro操作簡單，測量速度可以快到3秒。更直觀的全面讀取數據，無遺漏數據點。具有多種分析功能和測量結果的比較。維護簡單，不含旋轉光學濾片的機構。高達2056x2464像素的偏振相機。

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PA系列是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量儀，PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm，可以測量的樣品范圍從幾個毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量儀以其技術的光子晶體偏光陣列片，*的雙折射算法設計制造，得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力，使其成為業內，特別是工業界雙折射測量/應力測量的選擇。

雙折射測量儀PA-Micro主要特點：

  • 操作簡單，測量速度可以快到3秒。

  • 視野范圍內可一次測量，測量范圍廣。

  • 更直觀的全面讀取數據，無遺漏數據點。

  • 具有多種分析功能和測量結果的比較。

  • 維護簡單，不含旋轉光學濾片的機構。

  • 高達2056x2464像素的偏振相機

雙折射測量儀PA-Micro應用領域：

  • 通信光纖

  • 晶體

  • 醫學細胞


技術參數：

項次

項目            

具體參數

1

輸出項目

相位差【nm】，軸方向【°】，相位差與應力換算（選配）【MPa】


2

測量波長

520nm


3

雙折射測量范圍

0-130nm


4

測量小分辨率

0.001nm


5

測量重復精度

<1nm（西格瑪）


6

視野尺寸

142x170um到3.5x4.2mm
(×2，×5，×10，×20，×50)


7

選配鏡頭視野

無


8

選配功能    

實時解析軟件，鏡片解析軟件，數據處理軟件，實現外部控制


測量案例：


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