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雙折射測量儀PA-300-MT

  • 型 號：
  • 訪問次數：2447
  • 更新時間：2023-08-30
  • 價   格：

雙折射測量儀PA-300-MT是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量儀，PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm，可以測量的樣品范圍從幾個毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量儀以其技術的光子晶體偏光陣列片，*的雙折射算法設計制造，得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力，使其成為業內，特別是工業界雙折射測量/應力測量的選擇。

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雙折射測量儀PA-300-MT主要特點：

  • 操作簡單，測量速度可以快到3秒；

  • 視野范圍內可一次測量，測量范圍廣；

  • 更直觀的全面讀取數據，無遺漏數據點；

  • 具有多種分析功能和測量結果的比較；

  • 維護簡單，不含旋轉光學濾片的機構;

  • 高達2056x2464像素的偏振相機。


雙折射測量儀PA-300-MT應用領域：

  • 小尺寸樣品

  • 光學鏡頭


主要技術參數：

 項次           項目            具體參數
1輸出項目          相位差【nm】，軸方向【°】，相位差與應力換算（選配）【MPa】

2測量波長520nm

3雙折射測量范圍0-130nm

4測量小分辨率0.001nm

5測量重復精度<1nm（西格瑪）

6視野尺寸17.5x21mm到33x40mm（標準）

7選配鏡頭視野6.3x7.5mm

8選配功能                實時解析軟件，鏡片解析軟件，數據處理軟件，實現外部控制


測量案例：
復印機鏡頭測量藍寶石測量單反相機鏡頭測量


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